shtek8800半导体
分立器件测试仪用途及主要测试对象
测试系统可对半导体分立器件进行测试，可测试的器件类型和参数项如下：
二极管：BVR、IR、VF、VZ
三极管：BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控硅：BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VON
场效应管：BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)
IGBT： BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)
光耦： CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR
达林顿矩阵：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO
测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。
测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准。
分立器件测试仪 技术指标
1. 电流/电压源 VIS
1). 加压(FV)
量 程 分辨率 精 度
±20V 610uV ±0.1% 设定值±2mV
±10V 305uV ±0.1% 设定值±2mV
±2V 61uV ±0.1% 设定值±2mV
2).加流(FI)：
量 程 分辨率 精 度
±10A 305uA ±0.5% 设定值±50mA
±2A 61uA ±0.2% 设定值±5mA
±200mA 6.1uA ±0.1% 设定值±500uA
±20mA 610nA ±0.1% 设定值±50uA
±2mA 61nA ±0.1% 设定值±5uA
±200uA 6.1nA ±0.1% 设定值±500nA
±20uA 610pA ±0.2% 设定值±50nA
2. 数据采集 VM
16位ADC，100K/S采样速率。
1). 电流测量(MI)
量 程 分辨率 精 度
±10A 305uA ±0.5% 读数值±20mA
±2A 61uA ±0.2% 读数值±5mA
±200mA 6.1uA ±0.1% 读数值±500uA
±20mA 610nA ±0.1% 读数值±50uA
±2mA 61nA ±0.1% 读数值±5uA
±200uA 6.1nA ±0.1% 读数值±500nA
±20uA 610pA ±0.1% 读数值±50nA
±2uA 61pA ±0.2% 读数值±5nA
±200nA 6.1pA ±0.5% 读数值±0.5nA
2). 电压测量(MV)
量 程 分辨率 精 度
±600V 61mV ±0.5% 读数值±200mV
±100V 3.05mV ±0.2% 读数值±20mV
±20V 610uV ±0.1% 读数值±10mV
±10V 305uV ±0.1% 读数值±10mV
±2V 61uV ±0.1% 读数值±2mV
±200mV 6.1uV ±0.2% 读数值±2mV
3. 高压源 HVS(基本) 16位DAC
量 程 分辨率 精 度
±600V/5mA 30.5mV ±0.5% 设定值±500mV
分立器件测试仪 硬件基本配置
主控计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上；
计算机PCI接口板(CPUINT)一块；
系统接口板(SYSINT)一块(含GPIB接口)；
数据采集板(VM)一块；
10A/20V程控电流电压源(VIS)两块；
±600V程控电压源(HVS)一块；
电流/电压转换板(IVC）一块；
电源控制板(PWC)一块；
测试台矩阵板(STATION)一块；
自检模板一个；
测试适配器
分立器件测试仪系统软件
系统软件一套，其中包括：
1. 菜单式测试程序编辑软件
2. 诊断软件
3. 校准软件
