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shtek8800半导体

技术指标

分立器件测试仪用途及主要测试对象
测试系统可对半导体分立器件进行测试，可测试的器件类型和参数项如下：
二极管：BVR、IR、VF、VZ
三极管：BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控硅：BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VON
场效应管：BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)
IGBT：    BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)
光耦：    CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR
达林顿矩阵：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO
    测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。
测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准。
分立器件测试仪 技术指标
1. 电流/电压源 VIS
1). 加压(FV)
量   程    分辨率    精   度
±20V    610uV    ±0.1% 设定值±2mV
±10V    305uV    ±0.1% 设定值±2mV
±2V      61uV     ±0.1% 设定值±2mV
2).加流(FI)：
量   程          分辨率          精   度
±10A          305uA          ±0.5% 设定值±50mA
±2A            61uA            ±0.2% 设定值±5mA
±200mA      6.1uA           ±0.1% 设定值±500uA
±20mA        610nA          ±0.1% 设定值±50uA
±2mA          61nA            ±0.1% 设定值±5uA
±200uA       6.1nA            ±0.1% 设定值±500nA
±20uA          610pA          ±0.2% 设定值±50nA
2. 数据采集 VM   
16位ADC，100K/S采样速率。
1). 电流测量(MI)
量   程         分辨率           精   度
±10A         305uA           ±0.5% 读数值±20mA
±2A           61uA             ±0.2% 读数值±5mA
±200mA     6.1uA            ±0.1% 读数值±500uA
±20mA        610nA          ±0.1% 读数值±50uA
±2mA         61nA            ±0.1% 读数值±5uA
±200uA       6.1nA           ±0.1% 读数值±500nA
±20uA         610pA          ±0.1% 读数值±50nA
±2uA           61pA            ±0.2% 读数值±5nA
±200nA         6.1pA          ±0.5% 读数值±0.5nA
2). 电压测量(MV)
量   程        分辨率         精   度
±600V       61mV         ±0.5% 读数值±200mV
±100V       3.05mV       ±0.2% 读数值±20mV
±20V         610uV         ±0.1% 读数值±10mV
±10V         305uV         ±0.1% 读数值±10mV
±2V            61uV         ±0.1% 读数值±2mV
±200mV      6.1uV        ±0.2% 读数值±2mV
3. 高压源  HVS(基本)  16位DAC
量   程             分辨率      精   度
±600V/5mA    30.5mV    ±0.5% 设定值±500mV

分立器件测试仪 硬件基本配置
主控计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上；
计算机PCI接口板(CPUINT)一块；
系统接口板(SYSINT)一块(含GPIB接口)；
数据采集板(VM)一块；
10A/20V程控电流电压源(VIS)两块；
±600V程控电压源(HVS)一块；
电流/电压转换板(IVC）一块；
电源控制板(PWC)一块；
测试台矩阵板(STATION)一块；
自检模板一个；
测试适配器
分立器件测试仪系统软件
系统软件一套，其中包括：
1.    菜单式测试程序编辑软件
2.    诊断软件
3.    校准软件

详细资料查看：http://www.17.net.cn/main/listmulu1-15.html

     比较器和运算放大器实际上是相同的集成电路，只是比较器一般开环使用，运算放大器是闭环使用。因而比较器的开环放大系数比较低，开环使用都比较稳定；而运算放大器的开环放大系数很高，不闭环使用非常不稳定，只能闭环。测试这些元器件请使用：集成电路测试仪GT2100A.

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    对于实际使用运算放大器而言,重要的不是了解集成运算放大器的内部电路,而是在于了解它的特性,参数及实际连接方法.运算放大器的主要参数有:

(1)输入失调电压力
    在输入电压和输入端外接电阻为0Ω时,为了使运算放大器输出失调电压为0V,在输入端间必须加一个直流补偿电压.这个电压就是输入失调电压UIO. UIO的值越小越好,一般运算放大器的UIO在1～20μV之间.

(2)输入失调电流IIO

    当运算放大器失调电压为0时,两输入端静态偏置电流之差,称为输入失调电流0时,两输入端静态偏置电流之差,称为输入失调电流IIO. IIO实际上为运算放大器两个输入端所加的补偿电流,它越小越好.

(3)输入偏置电流IIO

    运算放大器反相输入端与同相输入端的静态偏置电流IB1和IB2的平均值,称为输入偏置电流IB1.
双极型运算放大器的IiB为μA数量级,MOS运算放大器的IiB为pA数量级.
(4)输入失调电压温度系数dUIOt和输入失调电流温度系数dHO
这俩个参数用来衡量运算放大器的温漂特性.这两个指标越小越好.

(5)开环差模电压增益Aod

    当运算放大器工作在线性区时,输出开路电压uO与输入差模电压Uid的比值,称为Aod. Aod>0,其值在60～180dB之间.

(6)共模抑制比KCMR

    KCMR=| Aod / Aoc |,即动算放大器的开环差模型增益与开环共模型增益之比的绝对值,用分贝表示.此值一般在80～180dB之间.

使用集成电路测试仪GT2200A来解决这些参数的测试问题,也可以用这个设备对器件进行筛选测试。设备的详细资料：/main/listproduct1423.html

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