ABI SYSTEM 8 的功能应用–信号比对测试功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–信号比对测试功能篇
注意信号的振幅变化 确认信号经过被测器件的相移情形 确认被测器件的频率变化 确认器件反应的频率范围 功能优点 自动参数测量 在信号产生功能中可进行各项信号参数调整 自动扫频功能 可组合客制化测量接口到自动测量程序中 ...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–客制化测试功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–客制化测试功能篇
使用者可设定SYSTEM 8 中的各个标准仪器功能来测试器件的电气特性. 使用者可自行定义操作接口并将其储存为一新的测试功能.功能优点 可储存及共享客制测试功能 可组合多个客制化测试功能在自动测试程序之中 快速的测试单一器件 针对特定组件设计测试方式 ...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–EPROM 数据读取比对功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–EPROM 数据读取比对功能篇
“EPROM数据读取比对功能” 可读取EPROM的内容并响应档案的Checksum数值. 为什么要用此功能? 可确认同一批所有的EPROM的数据内容.读取EPROM的数据内容.可依照既有的档案来比对EPROM的数据内容.确认EPROM数据内容并非空白.功能优点.支持在线及离线测试能力.可储存所读取的...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–数字IC 识别功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–数字IC 识别功能篇
“数字IC识别功能” 可依照不同的器件接脚数, 来自动测试并列出符合该器件功能的IC编号. 为什么要用此功能? 可用来判定未知器件或难以判定器件所符合的功能的器件编号.列出相同功能的器件编号.针对器件进行功能测试.找出可替代的器件编号或是器件功能.可支持在线或离线测试能力. 列出所有相同功能的器...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–逻辑时序测试功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–逻辑时序测试功能篇
“逻辑时序测试功能” 是利用逻辑时序组合信号, 驱动器件或电路板的输入端口, 并自动地测量对应的输出埠的时序向量状态. 使用者可针对客制器件或整板测试来自行设计的测试时序.可设计客制化的IC时序并进行测试.可针对器件的局部进行功能测试 可针对电路板进行完整的组合测试. ...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–电源供应控制功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–电源供应控制功能篇
“电源供应控制功能” 提供一组逻辑电源及一组正/负可调式电源输出功能. 此功能在测试及故障查找中是不可或缺的工具. 可安全的启动被测电路板或器件. 可得知该电路板的消秏功率. 逻辑电源具有过电压跳脱功能.可调电源具有限流功能. ...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–短路阻抗测量功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–短路阻抗测量功能篇
“短路阻抗测量” 可提供一低电阻测量技术, 用于测量电路板上二点之间的阻抗值. 可判定线路阻抗及精准的确定电路板上短路的位置. 判定短路的位置 : 像短接的情形. 判定电源连接的位置: 可判定 Vcc/Gnd 及器件接脚 可持续的测量二点之间的阻抗 : 确定线路有无损伤 ...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–IC 状态测量功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–IC 状态测量功能篇
“IC状态测量” 是利用测量IC各接脚在电路板上的状态来进行比对测试. 其中包含交流信号阻抗及接脚状态二种信息. 利用比对的方式来确认IC器件的外围的连接故障或是IC的内部问题. 确认IC器件的外围故障问题 : 断线或是开路问题 确认IC内部并未损坏.可用来进行各类型的器件量测: 未知的IC器件 ...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–数字组件功能测试篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–数字组件功能测试篇
“数字组件功能测试” 是利用内建的器件数据库中的测试程序, 来针对通电中的器件进行在线测试. 此功能就如同IC的真值表功能. 确认该器件是否有该真值表的功能 : pass (ü) or fail (û) 确认器件是否有正确的连接状态 : 短 / 开路状态 或 连接状态 确认器件是否工作在正确的电源电...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–信号分析功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–信号分析功能篇
“信号分析功能” 是利用一系列标准测量仪器功能来采集被测器件或电路板上的信号数据, 并且量化其测量的结果. (可适用于通电及非通电情形). 可确认信号的标准性 : 信号的时脉或测量值… 可确认器件的测量值 :电阻值 ...
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