无极性的电容可能是负担

无极性的电容可能是负担
它们比普通的极性电容器更大,并且更贵,所以极少采用。但是,你是否曾见过最近推向市场的三引线电解电容器?中间的引线是正极,其他引线是负荷。 ...
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测量快速比较器的失调电压

测量快速比较器的失调电压
失 调电压并不是一件很容易的事,但却是完全有可能的,只要你努力想想问题的各方面。当输入电压接近零时,快速比较器都有振荡的趋势。 ...
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关于SOP封装

关于SOP封装
SOP器件又称为SOIC(Small Outline Integrated Circuit),特点是相邻的两引线中心距为1.27mm。SOP也叫SOL和DFP,SOP封装标准有SOP-8、SOP-16、SOP-20、SOP-28等等,SOP后面的数字表示引脚数,业界往往把“P”省略,叫SO(Smal...
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QFN封装技术资料

QFN封装技术资料
四侧无引脚扁平封装,表面贴装型封装之一.现在多称为LCC.QFN 是日本电子机械工业 会规定的名称.封装四侧配置有电极触点,由于无引脚,贴装占有面积比QFP 小,高度 比QFP 低.但是,当印刷基板与封装之间产生应力时,在电极接触处就不能得到缓解.因此电 极触点 难于作到QFP 的引脚那样多,...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–信号比对测试功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–信号比对测试功能篇
注意信号的振幅变化 确认信号经过被测器件的相移情形 确认被测器件的频率变化 确认器件反应的频率范围 功能优点 自动参数测量 在信号产生功能中可进行各项信号参数调整 自动扫频功能 可组合客制化测量接口到自动测量程序中 ...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–客制化测试功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–客制化测试功能篇
使用者可设定SYSTEM 8 中的各个标准仪器功能来测试器件的电气特性. 使用者可自行定义操作接口并将其储存为一新的测试功能.功能优点 可储存及共享客制测试功能 可组合多个客制化测试功能在自动测试程序之中 快速的测试单一器件 针对特定组件设计测试方式 ...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–EPROM 数据读取比对功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–EPROM 数据读取比对功能篇
“EPROM数据读取比对功能” 可读取EPROM的内容并响应档案的Checksum数值. 为什么要用此功能? 可确认同一批所有的EPROM的数据内容.读取EPROM的数据内容.可依照既有的档案来比对EPROM的数据内容.确认EPROM数据内容并非空白.功能优点.支持在线及离线测试能力.可储存所读取的...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–数字IC 识别功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–数字IC 识别功能篇
“数字IC识别功能” 可依照不同的器件接脚数, 来自动测试并列出符合该器件功能的IC编号. 为什么要用此功能? 可用来判定未知器件或难以判定器件所符合的功能的器件编号.列出相同功能的器件编号.针对器件进行功能测试.找出可替代的器件编号或是器件功能.可支持在线或离线测试能力. 列出所有相同功能的器...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–逻辑时序测试功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–逻辑时序测试功能篇
“逻辑时序测试功能” 是利用逻辑时序组合信号, 驱动器件或电路板的输入端口, 并自动地测量对应的输出埠的时序向量状态. 使用者可针对客制器件或整板测试来自行设计的测试时序.可设计客制化的IC时序并进行测试.可针对器件的局部进行功能测试 可针对电路板进行完整的组合测试. ...
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ABI SYSTEM 8 的功能应用–电源供应控制功能篇

ABI SYSTEM 8 的功能应用–电源供应控制功能篇
“电源供应控制功能” 提供一组逻辑电源及一组正/负可调式电源输出功能. 此功能在测试及故障查找中是不可或缺的工具. 可安全的启动被测电路板或器件. 可得知该电路板的消秏功率. 逻辑电源具有过电压跳脱功能.可调电源具有限流功能. ...
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